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半导体设备检验与测量设备高精准T/C Wafer Open Checker (热电偶晶圆断线检测仪)
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高精准T/C Wafer Open Checker (热电偶晶圆断线检测仪)

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应用领域:半导体制造,场景:在晶圆级封装(WLP)和前端制程中,检测热电偶传感器的电路连通性,确保温度传感功能的可靠性。

应用领域:传感器生产场景:热电偶晶圆常用于温度传感器(如红外传感器、工业测温模块),检测仪可确保每个传感单元的电路无断线或短路。

应用领域:微电子封装与测试场景:在晶圆切割(Dicing)前进行全检或抽检,避免不良品流入后续工序。

产品特性:

●高效精准:迅速识别TC Wafer的断线点,提升检测效率。

多功能显示屏:LCD实时展示当前状态、断线信息及电池电量,一目了然。

便携式设计:内置电池,随时随地灵活使用。

兼容性强:支持 17 通道同时检测,适用于多种应用场景。

产品规格:

MCU(微控制器)

型号:ATMEGA 2560V

类型:AVR AVR® Atmega 8 位

主频:8MHz,闪存:256KB(128K×16)

●图形 LCD用于显示状态和检测结果。

连接器D-Sub 37 针连接器。

电源

●输入:AC 宽电压适配器,输出:DC 5V。

内部使用电压:3.3V。

产品应用图:

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